粉末样品SEM微观分析 粉末样品细度测试
SEM就是扫描电子显微镜的外文名scanning electronmicroscope的简称。SEM是一种用于高分辨率微区形貌分析的大型精密仪器。
SEM扫描电镜工作原理：
用细聚焦的电子束扫描（轰击）样品，电子与样品相互作用，激发各种物理信息。对这些信息收集、放大再成像，获得对样品表面形貌的观察。
电子显微镜的工作就是进入微观世界的工作啦。我们平常所说的微乎其微或微不足道的东西, 在微观世界中, 这个微也就不称其微,一根头发丝儿的截面也放大看很清楚了，应用于显微技术中常用单位就是纳米（nm)。
SEM扫描电镜的基本结构：
1-镜筒;
2-样品室;
3-EDS探测器;
4-监控器;
5-EBSD探测器;
6-计算机主机;
7-开机/待机/关机按钮;
8-底座;
9-WDS探测器。
SEM主要测什么?使用范围？
扫描电镜可对金属、陶瓷、岩石等材料以及各种固体材料的微观形貌观察和微区元素成分、线分布、面分布等分析纳米技术、材料、物理、化学、环境科学等领域。
SEM测试对样品的要求？
一、制样说明
粉末、液体、薄膜、块体均可测试，粉体样品大概10mg，块体样品要求长宽小于1cm，厚度小于1cm
1、粉体样品，常规粉末直接粘到导电胶上测试，如需分散后测试请提前说明；
2、液体样品，测试老师根据样品要求及实验室条件，随机选择滴到导电胶、硅片或铝箔上，
3，薄膜或块体，要标明测试面，如需测试截面，请自行自备截面或提前说明